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tr_what5 [2023/05/16 17:35]
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meiling
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 ###  关于MOSFET的寄生容量和温度特性 ###  关于MOSFET的寄生容量和温度特性
 ####  MOSFET的静电容量 ####  MOSFET的静电容量
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 功率MOSFET在构造上，如图1存在寄生容量。 功率MOSFET在构造上，如图1存在寄生容量。
  
 功率MOSFET在构造上，如图1存在寄生容量 MOSFET的G (栅极) 端子和其他的电极间由氧化膜绝缘，DS (漏极、源极) 间形成PN接合，成为内置二极管构造。Cgs,​ Cgd容量根据氧化膜的静电容量、Cds根据内置二极管的接合容量决定。 功率MOSFET在构造上，如图1存在寄生容量 MOSFET的G (栅极) 端子和其他的电极间由氧化膜绝缘，DS (漏极、源极) 间形成PN接合，成为内置二极管构造。Cgs,​ Cgd容量根据氧化膜的静电容量、Cds根据内置二极管的接合容量决定。
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 +{{ ::​all_what5_tr_1_.png |}}
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 +一般而言MOSFET规格书上记载的是表1中的Ciss/​Coss/​Crss三类。
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 +{{ ::​all_what5_tr_2_.png |}}
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 +容量特性如图2所示，对DS (漏极、源极) 间电压VDS存在依赖性。VDS大则容量值小。
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 +{{ ::​all_what5_tr_3_.png |}}
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 +####  温度特性
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 +实测例见图(1) ~ (3)所示
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 +关于容量特性的温度依存性几乎没有差异。
 +{{ ::​all_what5_tr_4_.png |}}
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 +###  关于MOSFET的开关及其温度特性
 +####  关于MOSFET的开关时间
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 +栅极电压ON/​OFF之后，MOSFET才ON/​OFF。这个延迟时间为开关时间。开关时间如表1所示种类，一般而言，规格书上记载td(on)/​ tr/ td(off)/ tf。
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 +ROHM根据图2电路的测定值决定规格书的typ.值。
 +{{ ::​all_what5_tr_5_.png |}}
 +{{ ::​all_what5_tr_6_.png |}}
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 +####  温度特性
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 +实测例如图3(1)~(4)所示。
 +温度上升的同时开关时间略微增加，但是100°C上升时增加10%成左右，几乎没有开关特性的温度依存性。
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 +图3: 开关温度特性
 +{{ ::​all_what5_tr_7_.png |}}
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 +###  ID-VGS特性和温度特性
 +ID-VGS特性和界限值温度特性的实测例如图1、2所示。
 +如图1，为了通过绝大部分电流，需要比较大的栅极电压。
 +表1所记载的机型，其规格书上的界限值为2.5V以下，但是为4V驱动产品。
 +使用时请输入使其充分开启的栅极电压。
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 +如图2，界限值随温度而下降。
 +通过观察界限值电压变化，能够计算元件的通道温度。
 +{{ ::​all_what5_tr_8_.png |}}