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--- tr_what4 [2023/05/16 17:02]
meiling
+++ tr_what4 [2023/05/16 17:33] (当前版本)
meiling
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 {{ ::tr_what4_jp_3_.png |}}
-∴ IC= hFE×((Vin-VBE)/R1 )- (VBE/R2)) ・・・①
+**∴ IC= hFE×((Vin-VBE)/R1 )- (VBE/R2)) ・・・①**
 ※这里所说的hFE是VCE=5V、IC=1mA时的值，不是饱和状态。
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 作为开关使用时，需要饱和状态的电流比率IC/IB=20/1
-∴ IC= 20×((Vin-VBE)/R1 )- (VBE/R2 ))・・・②
+**∴ IC= 20×((Vin-VBE)/R1 )- (VBE/R2 ))・・・②**
 将式子①的hFE替换成20/1。
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 根据下面的式子选择数字晶体管的电阻R1、R2，使数字晶体管的IC比使用设备上的最大输出电流Iomax大。
-∴ Iomax≦20((Vin-0.75)/(1.3×R1)-0.75/(1.04×R2))
+**∴ Iomax≦20((Vin-0.75)/(1.3×R1)-0.75/(1.04×R2))**
 ###  数字晶体管的型号说明
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 **解说**
 DTA/C系列为例，构成数字晶体管的个别晶体管能流过100mA电流。
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 ###  GI和hFE的区别
-hFE: 作为晶体管的直流电流增幅率
+**hFE: 作为晶体管的直流电流增幅率**
+**GI: 作为数字晶体管的直流电流增幅率**
+{{ ::tr_what4_jp_5_.png |}}
+**解说**
+GI和hFE都表示发射极接地直流电流放大率。
+数字晶体管是指普通晶体管上连接2个电阻器的晶体管。
+直流电流放大率为 输出电流/输入电流 ，因此不因输入电阻R1，放大率下降。仅有输入电阻R1的类型 放大率表示为hFE，与个别晶体管hFE相等。
+如果在E-B间附加电阻R2，输入电流则分为流过个别晶体管的电流和流过E-B间电阻R2的电流。
+因此放大率比单体时下降。此值称为GI，用以区分。
+###  关于VI(on)和VI(off)的区别
+VI(on)、VI(off)容易被混淆
+VI(on): 数字晶体管为保持ON状态的最低电压、定义VI(on)为min
+错误观点
+{{ ::tr_what4_cn_2_.png |}}
+：由0开始依次加入输入电压。
+：达到1.8V时，数字晶体管启动。
+：因在规格书规定的3V(min) 以下，故判断为不合格。
+正确观点
+{{ ::tr_what4_cn_3_.png |}}
+A：首先为了启动数字晶体管，加入足够的输入电压Vin(如10V)
+B：渐渐降低电压，到规格书规定的3V时停止。
+因仍保持ON状态，故该产品为合格。
+C：如果继续降低基极电压，不能完全保持ON状态，而向OFF状态变化。
+因这一变化点在3V以下，故产品为合格。
+###  关于数字晶体管的温度特性
+根据环境温度、VBE、hFE、R1、R2变化。
+hFE的温度变化率约为0.5％/ºC
+VBE的温度系数约为－2mV/ºC(-1.8 to -2.4mV/ºC的范围有偏差)
+{{ ::tr_what4_jp_8_.png |}}
+R1的温度变化率，如下图表。
+{{ ::tr_what4_cn_4_.png |}}
+###  关于输出电压 - 输出电流特性的低电流领域(数字晶体管的情况)
+数字晶体管的输出电压-输出电流特性，按以下测定方法测定。
+IO（低电流区域）条件下，个别晶体管基极没有电流流过。
+因此低电流区域输出电压 (VO)[VCE(sat)]上升。
+{{ ::tr_what4_jp_5_.png |}}
+测定方法 DTC114EKA 的场合 用IO/Ii=20/1测定。
+Ii=IB+IR2、(IR2=VBE/10k=0.65V/10k=65μA)
+IB=Ii-IR2=Ii-65μA 即Ii在65µA以下时，IB没有电流流过，VO [VCE(sat)]上升。
+因此，在低电流区域不能测定VO。
+{{ ::tr_what4_jp_10_.png |}}
+###  关于数字晶体管的开关动作
+####  ①晶体管的动作
+{{ ::tr_what4_jp_11_.png |}}
+如图1，输入电压，启动NPN晶体管。
+在这个电路中，基极(B)-发射极(E)之间输入顺向电压，注入基极电流。
+就是说，在基极(B)领域注入+空穴。
+如果在基极(B)领域注入+电子，发射极(E)的载流子-会被吸引至基极(B)，但是正极(B)领域非常薄，因此通过加入集电极电压，载流子可以穿越基极(B)流向集电极(C)。
+借此，电流可以由集电极(C)→发射极(E)流动。
+####  ②开关动作
+{{ ::tr_what4_jp_12_.png |}}
+晶体管的动作有增幅作用和开关作用。
+在增幅作用中，通过注入基极电流IB，能够通过增幅hFE倍的集电极IC。
+在活性领域中，通过输入信号持续控制集电极电流，可以得到输出电流。
+在开关作用中，在ON时电气性饱和状态（降低集电极-发射极间的饱和电压）下使用。
+###  关于数字晶体管的用语
+VI(on)Min.：输入电压 (INPUT ON VOLTAGE)
+向OUT引脚、GND引脚间施加正向电压 (VO)，并得到规定的输出电流时需要的最小输入电压，即数字晶体管导通区域的最小输入电压值。
+因此，如果要从ON状态变为OFF状态，需要进一步降低该最小输入电压值，所以正常产品的电压值低于这个数值。
+----
+VI(off)Max.：输入电压 (INPUT OFF VOLTAGE)
+在向OUT引脚、GND引脚间施加电源电压 (VCC)、输出电流 (IO) 的状态下，IN引脚、GND引脚间得到的最大输入电压，即可以保持数字晶体管OFF状态区域的最大输入电压值。
+因此，如果要从OFF状态变为ON状态，需要进一步升高该最大输入电压值，所以正常产品的电压值高于这个数值。
+----
+VO(on)：输出电压 (OUTPUT VOLTAGE)
+在任意输入条件下不超过绝对最大额定值的输出引脚电压。GND接地放大电路流过充足的输入电流时，输出电压降低，IN、OUT接合也变为正偏压状态。在规定的VO、IO下将II设定为整数（通常10~20）分之一进行测定。
+----
+II(Max.)：输入电流 (INPUT CURRENT)
+向IN引脚、GND引脚间施加正向电压 (VI) 时，IN引脚连续流过电流的最大输入容许值。
+----
+GI：GND接地直流电流增益 (DC CURRENT GAIN)
+在规定的VO、IO条件下的IO/II的比值。
+----
+R1：输入电阻 (INPUT RESISTANCE)
+在IN引脚、晶体管基极之间内置的电阻。R1的公差设定为±30%。另外，还会随着温度的变化而变化。
+----
+R2/R1：电阻比率（RESISTANCE RATIO）
-GI: 作为数字晶体管的直流电流增幅率
+晶体管的基极∙发射极之间的电阻与内置输入电阻的比率。