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tr_what3 [2023/05/16 16:46] meiling |
tr_what3 [2023/05/16 16:50] (当前版本) meiling [fT:增益带宽积、截止频率] |
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VBE测定法 硅晶体管的情况下 基极-发射极间电压:VBE根据温度变化。 | VBE测定法 硅晶体管的情况下 基极-发射极间电压:VBE根据温度变化。 | ||
- | {{ ::tr_what3_jp_5_.png |}} | + | {{ ::tr_what3_jp_5_.png |}}图1. 热电阻测量电路 |
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- | 图1. 热电阻测量电路 | + | |
- | == 标题 H5 == | + | |
由此,通过测定VBE,可以推测结温。 | 由此,通过测定VBE,可以推测结温。 | ||
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因此,根据由输入功率得出△VBE,可以由以下算式得出上升的结温。 | 因此,根据由输入功率得出△VBE,可以由以下算式得出上升的结温。 | ||
{{ ::tr_what3_cn_6_.png |}} | {{ ::tr_what3_cn_6_.png |}} | ||
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图2. 进度表 | 图2. 进度表 | ||
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+ | ### fT:增益带宽积、截止频率 | ||
+ | fT:增益带宽积指晶体管能够动作的极限频率。 | ||
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+ | 所谓极限,即基极电流对集电极电流的比为1(即hFE=1)的情况。 | ||
+ | {{ ::tr_what3_cn_7_.png |}} | ||
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+ | 提高基极输入频率,hFE变低。 | ||
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+ | 这时,hFE为1时的频率叫做fT(增益带宽积)。 | ||
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+ | fT指在该频率下能够工作的极限值。 | ||
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+ | 但是,实际使用时能够动作的只有fT值的1/5 to 1/10左右。 | ||
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+ | 测定条件如下 | ||
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+ | f: 根据测定装置而定。为测定的标准频率。 | ||
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+ | VCE:任意设定。我公司为一般值。 | ||
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+ | IC:任意设定。我公司为一般值。 |