显示源文件讨论修订记录反向链接回到顶部 Share via Share via...最近更改Send via e-Mail打印Permalink × 目录 开放式工业测量仪器(硬件层面) 背景技术 发明内容 附图 **这是本文档旧的修订版!** 开放式工业测量仪器(硬件层面) 将现有的小型处理设备通过整合,得到一台完整的、平板形式的工业测量仪器,仪器整体结构的集成度较高,可实现多样化的测量功能 背景技术 1 现有技术情况 2 现有技术缺陷 发明内容 1 发明内容/改进点 2 该发明的创新之处 3 该发明的有益效果 4 是否存在替代方案? 附图